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Titel: Liquid-Phase Electron Microscopy with Controllable Liquid Thickness
VerfasserIn: Keskin, Sercan
Kunnas, Peter
de Jonge, Niels
Sprache: Englisch
Titel: Nano Letters
Bandnummer: 19
Heft: 7
Startseite: 4608
Endseite: 4613
Verlag/Plattform: American Chemical Society (ACS)
Erscheinungsjahr: 2019
Dokumenttyp: Journalartikel / Zeitschriftenartikel
Abstract: Liquid-phase electron microscopy (LPEM) is capable of imaging nanostructures and processes in a liquid environment. The spatial resolution achieved with LPEM critically depends on the thickness of the liquid layer surrounding the object of interest. An excessively thick liquid results in broadening of the electron beam and a high background signal that decreases the resolution and contrast of the object in an image. The liquid thickness in a standard liquid cell, consisting of two liquid enclosing membranes separated by spacers, is mainly defined by the deformation of the SiN membrane windows toward the vacuum side, and the effective thickness may differ from the spacer height. Here, we present a method involving a pressure controller setup to balance the pressure difference over the membrane windows, thus manipulating the shape profiles of the used silicon nitride membrane windows. Electron energy loss spectroscopy (EELS) measurements to determine the liquid thickness showed that it is possible to control the thickness precisely during an LPEM experiment by regulating the interior pressure of the liquid cell. We demonstrated atomic resolution on gold nanoparticles and the phase contrast using silica nanoparticles in liquid with controlled thickness.
DOI der Erstveröffentlichung: 10.1021/acs.nanolett.9b01576
Link zu diesem Datensatz: hdl:20.500.11880/28082
http://dx.doi.org/10.22028/D291-29268
ISSN: 1530-6984
1530-6992
Datum des Eintrags: 14-Okt-2019
Fakultät: NT - Naturwissenschaftlich- Technische Fakultät
Fachrichtung: NT - Physik
Professur: NT - Keiner Professur zugeordnet
Sammlung:SciDok - Der Wissenschaftsserver der Universität des Saarlandes

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