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Ressourcen der Sammlung (Sortiert nach Erscheinungsjahr): 18301 bis 18320 von 19774
ErscheinungsjahrTitelVerfasserInOpenAccess
1994Automatic labeling of phrase accents in GermanKiessling, Andreas; Kompe, Ralf; Batliner, Anton, u.a.
1994From DATR to PATR via DUTR - an interface formalismDuda, Markus
1994Korpusanalyse und Auswahl der TeilphänomeneButt, Miriam; Reinhard, Sabine; Winhart, Heike
1994Text skimming as a part in paper document understandingBleisinger, Rainer; Gores, Klaus-Peter
1994The VERBMOBIL domain model version 1.0Quantz, J. Joachim; Gehrke, Manfred; Küssner, Uwe, u.a.
1994Spontansprachliche syntaktische Phänomene : Analyse eines Korpus aus der Domäne "Terminabsprache"Tropf, Herbert Stefan
1994Knowledge-based disambiguation for machine translationQuantz, J. Joachim; Schmitz, Birte
1994Parsing of spoken language under time constraintsMenzel, Wolfgang
1994Eine zyklische Approximation an Sprechhandlungstypen : zur Annotierung von Äußerungen in DialogenSchmitz, Birte; Jekat-Rommel, Susanne
1994Presupposition as anaphora in the Verbmobil semantic formalismBos, Johan
1994Default handling in incremental generationHarbusch, Karin; Kilger, Anne; Kikui, Gen-ichiro
1994Pitch determination considering laryngealization effects in spoken dialogsNiemann, Heinrich; Denzler, J.; Kahles, B., u.a.
1994Lexikalische Regeln in der IBM-BasisgrammatikGeißler, Stefan
1994An investigation of tightly coupled time synchronous speech language interfaces using a unification grammarWeber, Hans; Hauenstein, Andreas
1994Phoneme recognition using acoustic eventsHübener, Kai; Carson-Berndsen, Julie
1994Außergrammatische Phänomene in der Spontansprache : Gegenstandsbereich, Beschreibung, MerkmalinventarBatliner, Anton; Burger, Susanne; Kießling, Andreas
1994Conserving corporate knowledge for crankshaft designKühn, Otto; Höfling, Björn
1994Sol-gel electrochromic deviceMacedo, Marcelo A.; Aegerter, Michel A.
1994Polycyclic amides and silylamides of Ge, Sn, As, Sb and BiVeith, Michael; Rammo, Andreas; Hans, Markus
1994Detailed study of electromigration induced damage in Al and AlCuSi interconnectsMöckl, U. E.; Bauer, M.; Kraft, Oliver, u.a.
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