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Ressourcen der Sammlung (Sortiert nach Erscheinungsjahr): 18601 bis 18620 von 19774
ErscheinungsjahrTitelVerfasserInOpenAccess
1992Proceedings / DFKI Workshop on Planning : Kaiserslautern, February 5, 1992-
1992Möglichkeiten der Wissensmodellierung für technische Diagnose-ExpertensystemeBecker, Kerstin
1992Indexing principles for relational languages applied to PROLOG code generationStein, Werner
1992A new logical framework for deductive planningStephan, Werner; Biundo, Susanne
1992Intelligent documentation as a catalyst for developing cooperative knowledge-based systemsSchmalhofer, Franz; Reinartz, Thomas; Tschaitschian, Bidjan
1992On principles and problems of defeasible inheritanceSchlechta, Karl; Makinson, David
1992Glasfasermatten als Träger für Absorber von LösungsmitteldämpfenSchmidt, Helmut K.; Kaiser, Alfred; Kasemann, Reiner
1992Processing and optical properties of inorganic-organic compositesSchmidt, Helmut K.
1992Thin films, the chemical processing up to gelationSchmidt, Helmut K.
1992Generierung natürlicher SpracheBusemann, Stephan; Novak, Hans-Joachim
1992The design of illustrated documents as a planning taskAndré, Elisabeth; Rist, Thomas
1992Specifying role interaction in concept languagesHanschke, Philipp
1992Extensions of concept languages for a mechanical engineering applicationBaader, Franz; Hanschke, Philipp
1992Knowledge acquisition from text in a complex domainSchmidt, Gabriele
1992Morphology and crystallography of electromigration induced transgranular slit failures in aluminum alloy interconnectsSanchez, J. E.; Randle, V.; Kraft, Oliver, u.a.
1992Quantitative analysis of electromigration-induced damage in Al-based interconnectsKraft, Oliver; Sanchez, J. E.; Arzt, Eduard
1992ODS-Legierungen : abnormales Kornwachstum im TemperaturgradientenLempenauer, Klaus; Arzt, Eduard
1992A simple model for stress voiding in passivated thin film conductorsLloyd, J. R.; Arzt, Eduard
1992On void nucleation and growth in metal interconnect lines under electromigration conditionsNix, William D.; Arzt, Eduard
1992Spektroskopischer Nachweis eines Bis(amino)silylensVeith, Michael; Werle, E.; Lisowsky, Richard, u.a.
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